Keysight stellt optimiertes, hochdichtes Inline-In-Circuit-Testsystem für Leiterplattenbestückung vor
Bietet eine hervorragende Testabdeckung und einen hohen Durchsatz und erfüllt damit die Ansprüche an komplexe Testanforderungen.
Der neue Inline-In-Circuit-Test (ICT) Keysight i3070 Serie 7i E9988GL mit hoher Dichte verfügt über die neuesten Quad-Density-Pin-Karten, die bis zu 5760 Testknoten auf kleinstem Raum bereitstellen können.
Keysight Technologies stellt das neue Inline-Testsystem Keysight i3070 Serie 7i vor, ein automatisiertes In-Circuit-Testsystem (ICT), das eine erhöhte Kapazität und einen höheren Durchsatz bietet und es Herstellern ermöglicht, die komplexen Testanforderungen der Leiterplattenbestückung (PCBA) mit einer größeren Knotenanzahl wirtschaftlich zu erfüllen.
Die Verwendung von Hochimpedanzknoten hat zugenommen, da die Nachfrage nach Signalqualität, geringerem Stromverbrauch und verbesserter Funktionalität weiter steigt. Dadurch erhöht sich jedoch auch die Dauer von Kurzschlusstests, was eine Herausforderung für die Testeffizienz darstellt. Das Testen von Hochgeschwindigkeits-PCBAs kann eine zeitraubende und entmutigende Aufgabe sein, die oft mehrere Zyklen für umfassende Tests erfordert und die Fertigung verlangsamt.
Die Keysight i3070 Serie 7i löst dieses Problem, indem sie Herstellern einen automatisierten Testprozess bietet, der die Gesamttestzeit erheblich reduziert. Das preisgekrönte ICT-System i3070 Serie 7i erhöht die Kapazität auf bis zu 5760 Knoten auf einer schlanken Inline-Fläche, um komplexe Testanforderungen zu erfüllen und die Verarbeitung größerer Panels zu ermöglichen.
Die Keysight i3070 Serie 7i bietet die folgenden Vorteile:
- Beschleunigte Kurzschlusstests: Ein erweiterter Kurzschlusstest-Algorithmus, der aus zwei Phasen besteht – einer Erkennungsphase und einer Isolierungsphase – beschleunigt das Testverfahren im Vergleich zu herkömmlichen Methoden um 50 %.
- Doppelte Anzahl von Testknoten: Durch den Einsatz der neuesten Quad-Density-Pin-Karten können bis zu 5760 Testknoten untergebracht werden, wobei die kompakte Grundfläche erhalten bleibt.
- Integrierte Tests für Superkondensatoren: Ermöglicht das Testen von Superkondensatoren bis zu 100 Farad durch eine erhältliche Integrationslösung, die den Bedarf an individueller Adapterelektronik überflüssig macht.
- Die bewährte Keysight Kurzdraht-Befestigung: Behebt Probleme, die oft mit der Langdrahtbefestigung verbunden sind, wie z. B. Rauschen, das die Teststabilität beeinträchtigt. Das Ergebnis sind übertragbare, konsistente und zuverlässige Tests, sowohl für den internationalen Einsatz als auch für den Einsatz an verschiedenen Produktionsstandorten.
Carol Leh, Vice President und General Manager für das Center of Excellence der Keysight Electronic Industrial Solutions Group, sagte: „Wir möchten erstklassige Lösungen anbieten, die unsere Kunden in die Lage versetzen, innovativ und erfolgreich zu sein. Die Hersteller sehen sich mit einer wachsenden Nachfrage nach effizienteren und komplexeren Tests konfrontiert, und Keysight stellt sich dieser Herausforderung direkt. Die Serie 7i bietet einen bahnbrechenden neuen Ansatz, der von Anfang an eine verbesserte Kapazität und einen erweiterten Erfassungsbereich mit hoher Effizienz bietet. Dank der Abwärtskompatibilität können die Kunden zudem beruhigt ihren Weg fortsetzen, mit dem Wissen, dass bestehende Investitionen geschützt sind.“
Keysight wird die neue hochdichte Inline-ICT i3070 Serie 7i vom 14. bis 17. November 2023 auf der productronica 2023 in München am Stand A1.576 vorführen.
Weitere Informationen
- Produktseite: Inline High-Density ICT System, Series 7i E9988GL
- Datenblatt: Hochdichtes Inline In-Circuit-Testsystem i3070 Serie 7i
Fordern Sie weitere Informationen an…
